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1、提出了一种新的基于电学测试的参考热阻测试方法——脉冲测量法。
2、电学测试结果表明:张应力下金属纳米梁的电阻值不稳定。
3、在纳米梁电学测试中,反复扫描电流产生的热会减小梁上张应力,从而使电阻随扫描次数增大。
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