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FTO的散*主要是FTO外层材料和边缘的散*,这部分散*占客体总散*的以上
能量为E的粒子被某一势阱散*,如果推求总散*截面常常易忽视物理背景
利用总散*截面和喇曼张量,对如何测量该晶体的谱线问题,在几何配置方面做了深入的讨论
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