他的主要工具是一种叫做二次离子质谱仪的装置。
使用时间飞行二次离子质谱仪(TOF-S IM S)、X*线光电子能谱仪(XPS)、原子力显微镜(AFM)和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。
利用双晶X*线衍*技术测试了外延层,确定外延层的组分与晶体质量,并利用二次离子质谱仪进行了纵向组分分布剖析,利用扩展电阻仪确定外延层的电学特*。
他的主要工具是一种叫做二次离子质谱仪的装置。
使用时间飞行二次离子质谱仪(TOF-S IM S)、X*线光电子能谱仪(XPS)、原子力显微镜(AFM)和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。
利用双晶X*线衍*技术测试了外延层,确定外延层的组分与晶体质量,并利用二次离子质谱仪进行了纵向组分分布剖析,利用扩展电阻仪确定外延层的电学特*。