目前常见的可测试*设计方法主要有改善设计法、结构设计法和边界扫描测试法等几种。
首先对测试技术和可测试*设计的一些方法做出了综述。
本文从可测试*设计的角度出发，讨论了测试综合技术的必要*，以及测试综合的方法与步骤。
可测试*设计是现代芯片设计中的关键环节，针对无线接入芯片的可测试*设计对测试技术有更高的要求。
结果表明，多信号流图测试*建模方法在产品的可测试*设计应用中可行、有效。
此外，发现用二进计数序列作为测试输入对于差错特征量可测试*设计有一定优点。
本文提出了一种离散余弦变换电路VLSI实现的可测试*设计。
扫描技术和边界扫描技术是目前可测试*设计的主流技术，可分别用来解决芯片内部与芯片之间的可测试*问题。
在系统芯片可测试*设计中考虑功耗优化问题是当前*上新出现的研究领域。
在可测试*设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试方式下的功耗比系统在正常工作方式下高很多。
