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利用相干渡越輻*(CTR)測量短和超短電子束團長度是*上束測領域新發展的頻域測量技術。
這種方法利用頻域測量矩陣直接給出了圓度形狀誤差和迴轉誤差的最小二乘解或最小均方誤差解。
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